公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
2006 | 數位類比轉換器之自我測試與自我校正技術 | 馬源朗; Ma, Yuan-Lang | | | | |
2014 | 數位類比轉換器的元素的權重的估算方法、裝置及應用其之逐次逼近暫存 器類比數位轉換器 | 陳弘易; 陳昶聿; 黃炫倫; 黃俊郎; JIUN-LANG HUANG | | | | |
2011 | 晶片網?之新聰明容錯?徑選擇策? | 楊攸凱; Yang, Yu-Kai | | | | |
2011 | 晶片網路中路由器之內嵌自我測試及容錯設計 | 李建興; Li, Chien-Hsing | | | | |
2010 | 液晶顯示源極驅動器高速自我測試方法與測試流程最佳化 | 林王安; Lin, Wang-An | | | | |
2013 | 測試圖案最佳化的方法 | JIUN-LANG HUANG ; 吳孟帆; 黃俊郎; 溫曉青; 宮瀨紘平 | | | | |
2008 | 用於液晶顯示源極驅動器測試且具有自我測試功能之三角積分調變器 | 楊鎮源; Yang, Chen-Yuan | | | | |
2006 | 用於測試訊號產生的三角積分調變器位元流之最佳化與壓縮技術 | 林耕平; Lin, Geng-Ping | | | | |
2010 | 精確電源壓降分析下的單元模型技術 | 潘信傑; Pan, Hsin-Chieh | | | | |
2010 | 考慮測試功率、可壓縮性、以及電壓降效應之測試向量產生方法 | 吳孟帆; Wu, Meng-Fan | | | | |
2009 | 考量溝通費用且負載平衡之平行化自動圖樣產生技術 | 葉琨煒; Yeh, Kuen-Wei | | | | |
2011 | 藉由消除危障改善即時性掃描測試品質之方法 | 王麒鈞; Wang, Chi-Chun | | | | |
2008 | 規則架構電路之內建自我測試技術 | 柯仲修; Ko, Tsung-Hisu | | | | |
2012 | 軟性錯誤容錯正反器設計 | 彭士倫; Peng, Shih-Lun | | | | |
2013 | 迴路測試架構與方法 | JIUN-LANG HUANG ; 黃炫倫; 黃俊郎; 林王安; 康平穎 | | | | |
2007 | 適用於薄膜電晶體顯示陣列之自我測試與自我修復技術 | 林政偉; Lin, Chen-Wei | | | | |
2006 | 適用良率評估應用之類比電路模型建立技術 | 吳孟霖; Wu, Meng-Lin | | | | |
2005 | 針對影像處理智財之覆蓋率導向驗證平台架構 | 羅偉倫; Lo, Wei-Lung | | | | |
2007 | 降低掃描鏈測試功率之自動測試圖樣產生技術 | 胡凱舜; Hu, Kai-Shun | | | | |
2006 | 類比數位與數位類比轉換器動態規格之內建自我測試技術 | 陳生泰; Chen, Sheng-Tai | | | | |