公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
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2002 | The Fringing Electric Field Effect on the Short-Channel Effect Threshold Voltage of FD SOI NMOS Devices with LDD/Sidewall Oxide Spacer Structure | J. B. Kuo; S. C. Lin; JAMES-B KUO | Hong Kong Electron Devices Meeting | 2 | 0 |