公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
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2010 | Threshold voltage and mobility extraction of NBTI degradation of poly-Si thin-film transistors | CHEE-WEE LIU ; Sun, H.-C.; Huang, C.-F.; Chen, Y.-T.; Wu, T.-Y.; Liu, C.W.; Hsu, Y.-J.; Chen, J.-S.; CHEE-WEE LIU | IEEE Transactions on Electron Devices |