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李建模
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公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
2008 | BCH碼之測試結果壓縮診斷技術 | 王方珉; Wang, Fang-Min | | | | |
2006 | CRC:低峰值功率可測試技術設計 | 陳勃樺; Chen, Bo-Hua | | | | |
2006 | IEEE 1500標準測試封套產生和驗證及功率預估自動化工具之實現 | 吳柏霖; Wu, Po-Lin | | | | |
2008 | N型非晶矽薄膜電晶體數位電路之極低電壓與靜態電流測試 | 沈學聰; Shen, Shiue-Tsung | | | | |
2008 | 一種適用於非同步電路之可測試設計 | 鄭啟玄; Cheng, Chi-Hsuan | | | | |
2004 | 低功率可自測基頻接收機之設計與實作 | 柯力維; Ko, Li-Wei | | | | |
2008 | 低功率自動掃描測試向量產生 | 林修霆; Lin, Hsiu-Ting | | | | |
2008 | 使用多重擷取時脈高速掃描測試圖樣的轉換錯誤診斷 | 趙上鋒; Chao, Shang-Feng | | | | |
2005 | 使用於系統晶片中之兩階層式測試資料暨測試時間壓縮 | 廖育德; Liaw, Yu-Te | | | | |
2012 | 利用代表性隨機漫步演算法應用於全速測試之暫態電壓降分析 | 蔡旻宏; Tsai, Ming-Hong | | | | |
2009 | 包含未知訊號之測試結果壓縮設計 | 王偉哲; Wang, Wei-Che | | | | |
2005 | 區段加權亂數低功率自我測試之基頻數位接收機之研製 | 李濬屹; Lee, Chun-Yi | | | | |
2009 | 可撓式薄膜電晶體數位電路靜態時序分析 | 許肇軒; Hsu, Chao-Hsuan | | | | |
2007 | 同步縮減系統晶片測試資料量與測試時間之方法 | 白炳川; Bai, Bing-Chuan | | | | |
2005 | 單晶片電視調諧器其相位雜訊之經濟有效測試方法 | 林柏州; Lin, Po-Chou | | | | |
2007 | 多重掃描鏈時序錯誤診斷 | 莊惟舜; Chuang, Wei-Shun | | | | |
2008 | 嵌入式矽智財核心之IEEE 1500安全測試封套 | 邱畊銘; Chiu, Geng-Ming | | | | |
2009 | 快速診斷組合邏輯與掃描鏈橋接錯誤之結構化簡技巧 | 蔡維霖; Tsai, Wei-Lin | | | | |
2005 | 掃描鏈分割與重排之掃描鏈黏著性錯誤診斷技術 | 游智凱; You, Jhih-Kai | | | | |
2007 | 支援全速延遲測試之IEEE 1500標準測試封套設計與驗證測試方法 | 高琮評; Kao, Tsung-Ping | | | | |