公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 |
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2006 | Abbe error-free test equipment for nanometer-order measurements | Wang Y.C.; Manske E.; J?ger G.; Jywe W.Y.; Wen-Yuh Jywe | Materials Science Forum | |||
2009 | The Application of the Dual-Beam Laser Interferometer for Calibration Precision Machine Tools | Liu C.-H.; Jywe W.-Y.; Chen I.-C.; Duan L.-L.; Jwo H.-H.; Jeng Y.-R.; Hsu T.-H.; Teng Y.-F.; Huang H.-L.; Wang M.-S.; J?ger G.; Wen-Yuh Jywe | Technisches Messen |