Project title/計畫英文名
考慮次10奈米製程晶片複雜度與變異性的平行化測試圖樣產生與適性測試技術之開發(I)
Project Number/計畫編號
103-2221-E-002-275-
Translated Name/計畫中文名
考慮次10奈米製程晶片複雜度與變異性的平行化測試圖樣產生與適性測試技術之開發(I)
Project Principal Investigator/計畫主持人
Funding Organization
Start date/計畫起
01-08-2014
Expected Completion/計畫迄
31-07-2015