第 1 到 1 筆結果,共 1 筆。
公開日期 | 標題 | 作者 | 來源出版物 | scopus | WOS | 全文 | |
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1 | 2017 | Robust test pattern generation for hold-time faults in nanometer technologies | Ho, Y.-H.; Chen, Y.-W.; Chang, C.-M.; Yang, K.-C.; CHIEN-MO LI | 2017 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test, VLSI-DAT 2017 |