https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/152240
標題: | 類比前端電路的內建自我測試技術 | 作者: | 黃俊郎 | 關鍵字: | 可測試性設計;內建自我測試;單晶片無線 收發機;類比前端電路;頻率合成器;Design-for-Testability;Built-In Self-Test;Single-chip wireless transceiver;analog front-end circuits;frequency synthesizer | 公開日期: | 31-七月-2005 | 出版社: | 臺北市:國立臺灣大學電機工程學系暨研究所 | 摘要: | 由於IC製程的快速演進,將數位、類比 前端以及射頻電路整合在同一晶片的單晶 片無線通訊系統已成為可能,然而其系統複 雜度對生產測試而言卻是一項很大的挑 戰。本子計劃(子計劃四:類比前端電路的 內建自我測試技術)的目標為發展單晶片無 線收發機中頻率合成器及類比前端電路的 自我測試技術以及相關電路,希望在不增加 太多的晶片面積和影響系統性能的前提 下,能有效地降低單晶片無線收發機的生產 測試發展時間及生產測試費用。 本子計劃為期三年,主要研究項目包括 (1)數位至類比與類比至數位轉換器的自 我測試技術、(2)頻率合成器的自我測試 技術、與(3)類比前端電路的迴路測試技 術。 在越來越短的上市時間及越來越低的價 格需求雙重壓力下,本子計劃所發展的技 術,將能有效地降低單晶片無線收發機生產 測試成本,使其更具市場競爭力。 |
URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/8063 | 其他識別: | 932220E002011 | Rights: | 國立臺灣大學電機工程學系暨研究所 |
顯示於: | 電機工程學系 |
檔案 | 描述 | 大小 | 格式 | |
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932220E002011.pdf | 1.19 MB | Adobe PDF | 檢視/開啟 |
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