https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/155896
標題: | Roughness- Enhanced Reliability of MOS Tunneling Diodes | 作者: | Lin, C.-H. Yuan, F. Shie, C.-R. Chen, K.-F. Hsu, B.-C. Lee, M.H. Pai, W.W. Liu, C.W. |
公開日期: | 2002 | 卷: | 23 | 期: | 7 | 起(迄)頁: | 431-433 | 來源出版物: | IEEE Electron Device Letters | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/148178 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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