https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/155898
標題: | Oxide roughness effect on tunneling current of MOS diodes | 作者: | Hsu, B.-C. Chen, K.-F. Lai, C.-C. Lee, S.W. Liu, C.W. |
公開日期: | 2002 | 卷: | 49 | 期: | 12 | 起(迄)頁: | - | 來源出版物: | IEEE Transactions on Electron Devices | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/148180 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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