https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/155934
標題: | Evidence of Si/SiGe heterojunction roughness scattering | 作者: | Liu, C. W. Lee, M. H. Lee, Y. C. Chen, P. S. Yu, C.-Y. Wei, J.-Y. Maikap, S. LiuCW |
公開日期: | 2004 | 卷: | 85 | 期: | 21 | 起(迄)頁: | - | 來源出版物: | Applied Physics Letters | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/148217 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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