https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/155955
標題: | Hole Confinement and 1/ f Noise Characteristics of SiGe Double-Quantum-Well p-Type Metal–Oxide–Semiconductor Field-Effect Transistors | 作者: | Lin, Yu Min Wu, San Lein Chang, Shoou Jinn Chen, Pang Shiu Liu, Chee Wee |
公開日期: | 2006 | 期: | 45 | 起(迄)頁: | 4006-4008 | 來源出版物: | Japanese Journal of Applied Physics, Part 1: Regular Papers and Short Notes and Review Papers | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/148239 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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