https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/174048
標題: | Thermal Modeling and Device Noise Properties of Three-Dimensional–SOI Technology | 作者: | Chen, Tze Wee Chun, Jung Hoon Lu, Yi-chang Navid, R. Wang, Wei Chen, Chang-Lee Dutton, R.W. |
公開日期: | 2009 | 卷: | 56 | 期: | 4 | 起(迄)頁: | 656-664 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Electron Devices | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/237231 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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