https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/179271
標題: | Near-edge Fine Structure Analysis of Core Shell Electronic Absorption Edges in Si and Its Refractory Compounds Using Electron Energy Loss Microscopy | 作者: | Skiff, W. M. Carpenter, R. W. 林聖賢 Lin, Sheng-Hsien |
公開日期: | 1987 | 卷: | v.62 | 起(迄)頁: | 243-9 | 來源出版物: | Journal of Applied Physics | URI: | http://ntur.lib.ntu.edu.tw//handle/246246/103067 |
顯示於: | 化學系 |
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