https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/299543
標題: | An Optimized Gate Oxide Breakdown Test by Activating Oxide Traps at Low Fields | 作者: | RUEY-SHAN GUO | 公開日期: | 十二月-1992 | 來源出版物: | International Electron Device Meeting | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/299543 | DOI: | 10.1109/iedm.1992.307328 |
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