https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/301814
標題: | Stress distribution on (100) Si wafer mapped by novel I-V analysis of MOS tunneling diodes | 作者: | JENN-GWO HWU | 公開日期: | 2003 | 卷: | 24 | 期: | 6 | 起(迄)頁: | 408-410 | 來源出版物: | IEEE Electron Device Letters | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-0042091972&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/301814 |
DOI: | 10.1109/LED.2003.813365 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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