https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/309373
標題: | Ge outdiffusion effect on flicker noise in strained-Si nMOSFETs | 作者: | Hua, W.-C. Lee, M.H. Chen, P.S. Maikap, S. Liu, C.W. Chen, K.M. CHEE-WEE LIU |
公開日期: | 2004 | 卷: | 25 | 期: | 10 | 起(迄)頁: | 693-695 | 來源出版物: | IEEE Electron Device Letters | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-5044252616&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/309373 |
DOI: | 10.1109/LED.2004.834884 |
顯示於: | 電機工程學系 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。