https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/310816
標題: | ELF-Murphy Data on Defects and Test Sets | 作者: | CHIEN-MO LI E. J. McCluskey A. Alyamani J. C. M. Li C. W. Tseng E. Volkerink F. F. Feriani E. Li S. Mitra CHIEN-MO LI |
公開日期: | 一月-2004 | 起(迄)頁: | 16-22 | 來源出版物: | IEEE VLSI Test Symposium | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/310816 | DOI: | 10.1109/VTEST.2004.1299220 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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