https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/315720
標題: | Papers from the 22nd North American Conference on Molecular Beam Epitaxy-Oxides-Depth profiling the electronic structures at HfO2/Si interface grown by molecular beam epitaxy | 作者: | Lay, TS Chang, SC Din, GJ Yeh, CC Hung, WH Lee, WG Kwo, J Hong, M MINGHWEI HONG |
公開日期: | 2005 | 卷: | 23 | 期: | 3 | 起(迄)頁: | 1291-1293 | 來源出版物: | Journal of Vacuum Science and Technology-Section B | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/315720 |
顯示於: | 應用物理研究所 |
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