https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/318029
標題: | Diagnosis of Single stuck-at Faults and Multiple Timing Faults in Scan Chains | 作者: | CHIEN-MO LI | 公開日期: | 六月-2005 | 卷: | 13 | 期: | 6 | 起(迄)頁: | 708-718 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/318029 | DOI: | 10.1109/TVLSI.2005.848800 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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