https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/318030
標題: | Diagnosis of Resistive and Stuck-open Defects in Digital CMOS IC | 作者: | CHIEN-MO LI Li, J. C.-M. E. J. McCluskey CHIEN-MO LI |
公開日期: | 十一月-2005 | 卷: | 24 | 期: | 11 | 起(迄)頁: | 1748-1759 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/318030 | DOI: | 10.1109/tcad.2005.852457 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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