https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/318035
標題: | Jump Scan: A DFT Technique for Low Power Testing, | 作者: | CHIEN-MO LI M.H. Chiu CHIEN-MO LI |
公開日期: | 五月-2005 | 起(迄)頁: | 277-282 | 來源出版物: | IEEE VLSI Test Symposium | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/318035 | DOI: | 10.1109/vts.2005.51 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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