https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/321619
標題: | Applications of damage models to reliability investigations for input/output electronic connectors | 作者: | KUO-CHI LIAO | 公開日期: | 2006 | 來源出版物: | American Society of Mechanical Engineers, Safety Engineering and Risk Analysis Division, SERA | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84920632493&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/321619 |
顯示於: | 生物機電工程學系 |
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