https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/323246
標題: | Measuring and modeling the scaling trend of the RF noise in MOSFETs | 作者: | Kao, H Chin, Albert Liao, C Mcalister, Sean Kwo, J Hong, M MINGHWEI HONG |
公開日期: | 2006 | 來源出版物: | 2006 64th Device Research Conference | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/323246 |
顯示於: | 應用物理研究所 |
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