https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/329670
標題: | Relaxation investigation for terminals of electronic connectors under thermal shock test | 作者: | KUO-CHI LIAO | 公開日期: | 2007 | 卷: | 5 | 起(迄)頁: | 391-395 | 來源出版物: | ASME International Mechanical Engineering Congress and Exposition, Proceedings | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84928633660&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/329670 |
DOI: | 10.1115/IMECE200743340 |
顯示於: | 生物機電工程學系 |
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