https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/330307
標題: | Residual thermal strain in thick GaN epifilms revealed by cross-sectional Raman scattering and cathodoluminescence spectra | 作者: | Wang, F.C. Cheng, C.L. Chen, Y.F. Huang, C.F. Yang, C.C. YANG-FANG CHEN CHIH-CHUNG YANG |
公開日期: | 2007 | 卷: | 22 | 期: | 8 | 起(迄)頁: | 896-899 | 來源出版物: | Semiconductor Science and Technology | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-34547407201&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/330307 |
DOI: | 10.1088/0268-1242/22/8/012 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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