https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/333990
標題: | An Efficient Peak Power Reduction Technique for Scan Testing | 作者: | M.-F. Wu K.-S. Hu J.-L. Huang JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 十月-2007 | 來源出版物: | Asian Test Symposium | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/333990 | DOI: | 10.1109/ATS.2007.4387993 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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