https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/342611
標題: | QBIST: 1-Testable Quantum Built-In Self-Test for any Boolean Circuit | 作者: | Y. H. Chou I. M. Tsai S. Y. Kuo SY-YEN KUO |
公開日期: | 四月-2008 | 起(迄)頁: | 261-266 | 來源出版物: | 26th IEEE VLSI Test Symposium (VTS'08) | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/342611 | DOI: | 10.1109/VTS.2008.49 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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