https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/342978
標題: | PHS-Fill: A Low Power Supply Noise Test Pattern Generation Technique for At-Speed Testing in Huffman Coding Test Compression Environment | 作者: | Y.-T. Lin M.-F. Wu J.-L. Huang JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 十一月-2008 | 起(迄)頁: | 391-396 | 來源出版物: | Asian Test Symposium | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/342978 | DOI: | 10.1109/ATS.2008.63 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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