https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/343002
標題: | Simultaneous capture and shift power reduction test pattern generator for scan testing | 作者: | CHIEN-MO LI H.T. Lin CHIEN-MO LI |
公開日期: | 三月-2008 | 卷: | 2 | 期: | 2 | 起(迄)頁: | 132-141 | 來源出版物: | IET Computers & Digital Techniques | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/343002 | DOI: | 10.1049/iet-cdt:20070088 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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