https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/347299
標題: | Applications of damage models to durability investigations for electronic connectors | 作者: | KUO-CHI LIAO Chang, C.-C. |
公開日期: | 2009 | 卷: | 30 | 期: | 1 | 起(迄)頁: | 194-199 | 來源出版物: | Materials and Design | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-48549100418&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/347299 |
DOI: | 10.1016/j.matdes.2008.04.047 |
顯示於: | 生物機電工程學系 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。