https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/347699
標題: | Comprehensive study on the deep depletion capacitance-voltage behavior for metal-oxide-semiconductor capacitor with ultrathin oxides | 作者: | Cheng, J.-Y. Huang, C.-T. Hwu, J.-G. JENN-GWO HWU |
公開日期: | 2009 | 卷: | 106 | 期: | 7 | 來源出版物: | Journal of Applied Physics | URI: | http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-70350104993&partnerID=MN8TOARS http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/347699 |
DOI: | 10.1063/1.3226853 |
顯示於: | 電機工程學系 |
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