https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/359466
標題: | Effects of gate-bias stress on ZnO thin-film transistors | 作者: | L.-Y. Su H.-Y. Lin S.-L. Wang Y.-H. Yeh C.-C. Cheng L.-H. Peng J.-J. Huang JIAN-JANG HUANG LUNG-HAN PENG |
公開日期: | 一月-2010 | 卷: | 18 | 起(迄)頁: | 802-806 | 來源出版物: | Journal of the Society for Information Display | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/359466 | DOI: | 10.1889/JSID18.10.802 |
顯示於: | 光電工程學研究所 |
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