https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/359563
標題: | An ADC/DAC Loopback Testing Methodology by DAC Output Offsetting and Scaling | 作者: | Xuan-Lun Huang Jiun-Lang Huang JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 四月-2010 | 起(迄)頁: | 289-294 | 來源出版物: | VLSI Test Symposium | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/359563 | DOI: | 10.1109/VTS.2010.5469548 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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