https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/366765
標題: | Sigma-delta modulation based wafer-level testing for TFT-LCD source driver ICs | 作者: | W.-A. Lin C.-C. Li J.-L. Huang JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 五月-2011 | 起(迄)頁: | 315-320 | 來源出版物: | VLSI Test Symposium | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/366765 | DOI: | 10.1109/VTS.2011.5783740 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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