https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/366787
標題: | Thermal-aware Test scheduling for 3D ICs | 作者: | CY Hsu JCM Li K. Chakrbarty CHIEN-MO LI |
公開日期: | 一月-2011 | 來源出版物: | IEEE Int’l 3D IC Test Workshop | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/366787 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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