https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/370052
標題: | Carrier escape mechanism dependence on barrier thickness and temperature in InGaN quantum well solar cells | 作者: | Lang, J. R. Young, N. G. Farrell, R. M. Wu, Y. -R. Speck, J. S. YUH-RENN WU |
公開日期: | 2012 | 卷: | 101 | 期: | 18 | 來源出版物: | Applied Physics Letters | URI: | http://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=ORCID&SrcApp=OrcidOrg&DestLinkType=FullRecord&DestApp=WOS_CPL&KeyUT=WOS:000311064500005&KeyUID=WOS:000311064500005 http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/370052 |
DOI: | 10.1063/1.4765068 |
顯示於: | 光電工程學研究所 |
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