https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/374328
標題: | An MCT-Based Bit-Weight Extraction Technique for Embedded SAR ADC Testing and Calibration | 作者: | X.-L. Huang J.-L. Huang H.-I. Chen C.-Y. Chen K.-T. Tseng M.-F. Huang Y.-F. Chou D.-M. Kwai JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 十月-2012 | 卷: | 28 | 期: | 5 | 起(迄)頁: | 705-722 | 來源出版物: | Journal of Electronic Testing: Theory and Applications | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/374328 | DOI: | 10.1007/s10836-012-5325-0 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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