https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381695
標題: | A circular pipeline processing based deterministic parallel test pattern generator | 作者: | K.-W. Yeh J.-L. Huang H.-J. Chao L.-T. Wang JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 九月-2013 | 來源出版物: | International Test Conference | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381695 | DOI: | 10.1109/TEST.2013.6651913 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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