https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381698
標題: | Fault Scrambling Techniques for Yield Enhancement of Embedded Memories | 作者: | S.-K. Lu H.-C. Jheng M. Hashizume J.-L. Huang P. Ning JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 十一月-2013 | 起(迄)頁: | 215-220 | 來源出版物: | Asian Test Symposium | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381698 | DOI: | 10.1109/ATS.2013.48 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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