https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381710
標題: | Compact Test Pattern Selection for Small Delay Defect | 作者: | J. Y. Chang K. Y. Liao S. C. Hsu J. C. M. Li J. C. Rau CHIEN-MO LI |
公開日期: | 五月-2013 | 卷: | 32 | 期: | 6 | 起(迄)頁: | 971-975 | 來源出版物: | IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems | URI: | http://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/381710 | DOI: | 10.1109/TCAD.2013.2237946 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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