https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/429662
標題: | Spectroscopic characterization of Si/Mo thin-film stack at extreme ultraviolet range | 作者: | Y. Y. Li Y. W. Lee T. S. Ho J. H. Wang I C. Wu T. W. Hsu Y. T. Chen S. L. Huang SHENG-LUNG HUANG |
公開日期: | 2018 | 卷: | 43 | 起(迄)頁: | 27919 | 來源出版物: | Optics Letters | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/429662 | ISSN: | 1469592 | DOI: | 10.1364/ol.43.004029 |
顯示於: | 光電工程學研究所 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。