https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/429669
標題: | A static bidirectional learning technique to accelerate test pattern generation | 作者: | J.-H. Pan K.-W. Yeh J.-L. Huang JIUN-LANG HUANG |
公開日期: | 2015 | 來源出版物: | International SoC Design Conference | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/429669 | DOI: | 10.1109/isocc.2015.7401692 |
顯示於: | 電子工程學研究所 |
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