https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/438588
標題: | Relaxation investigation for terminals of electronic connectors under thermal shock test | 作者: | KUO-CHI LIAO Lin K.-H. |
公開日期: | 2008 | 卷: | 5 | 起(迄)頁: | 391-395 | 來源出版物: | ASME International Mechanical Engineering Congress and Exposition, Proceedings | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/438588 | ISBN: | 0791842991; 9780791842997 | DOI: | 10.1115/IMECE2007-43340 |
顯示於: | 生物機電工程學系 |
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