https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/443360
標題: | Direct measurement of interfacial structure in epitaxial Gd <inf>2</inf>O<inf>3</inf> on GaAs (0 0 1) using scanning tunneling microscopy | 作者: | Chiu, Y.P. Shih, M.C. Huang, B.C. Shen, J.Y. Huang, M.L. Lee, W.C. Chang, P. Chiang, T.H. Hong, M. YA-PING CHIU MINGHWEI HONG |
公開日期: | 2011 | 卷: | 88 | 期: | 7 | 起(迄)頁: | 1058-1060 | 來源出版物: | Microelectronic Engineering | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/443360 | DOI: | 10.1016/j.mee.2011.03.042 |
顯示於: | 物理學系 |
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