https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/447963
標題: | Experimental demonstration on the ultra-low source/drain resistance by metal-insulator-semiconductor contact structure in In<inf>0.53</inf>Ga <inf>0.47</inf>As field-effect transistors | 作者: | Liao, M.-H. Chen, P.-K. MING-HAN LIAO |
公開日期: | 2013 | 卷: | 3 | 期: | 9 | 來源出版物: | AIP Advances | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/447963 | DOI: | 10.1063/1.4821803 |
顯示於: | 機械工程學系 |
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