https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/488000
標題: | Integration of partial scan and built-in self-test. | 作者: | CHIH-JEN LIN Lin, Chih-Jen Zorian, Yervant Bhawmik, Sudipta CHIH-JEN LIN |
公開日期: | 1995 | 卷: | 7 | 期: | 1-2 | 起(迄)頁: | 125-137 | 來源出版物: | J. Electronic Testing | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/488000 | DOI: | 10.1007/BF00993320 |
顯示於: | 資訊工程學系 |
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