https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/491123
標題: | Measurement of Local Si-Nanowire Growth Kinetics Using in situ Transmission Electron Microscopy of Heated Cantilevers | 作者: | Kalles?e, C. Wen, C.-Y. M?lhave, K. B?ggild, P. Ross, F.M. CHENG-YEN WEN |
公開日期: | 2010 | 卷: | 6 | 期: | 18 | 起(迄)頁: | 2058-2064 | 來源出版物: | Small | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/491123 | DOI: | 10.1002/smll.200902187 |
顯示於: | 材料科學與工程學系 |
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