https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/491652
標題: | Determination of thickness and lattice distortion for the individual layer of strained Al <inf>0.14</inf>Ga <inf>0.86</inf>NGaN superlattice by high-angle annular dark-field scanning transmission electron microscopy | 作者: | Shiojiri, M. ?eh, M. ?turm, S. Chuo, C.C. Hsu, J.T. Yang, J.R. Saijo, H. JER-REN YANG |
公開日期: | 2005 | 卷: | 87 | 期: | 3 | 來源出版物: | Applied Physics Letters | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/491652 | DOI: | 10.1063/1.1995952 |
顯示於: | 材料科學與工程學系 |
在 IR 系統中的文件,除了特別指名其著作權條款之外,均受到著作權保護,並且保留所有的權利。