https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/491980
標題: | Effect of annealing twins on electromigration in Ag-8Au-3Pd bonding wires | 作者: | Chuang, T.-H. Wang, H.-C. Chuang, C.-H. Lee, J.-D. Tsai, H.-H. TUNG-HAN CHUANG |
公開日期: | 2013 | 卷: | 42 | 期: | 3 | 起(迄)頁: | 545-551 | 來源出版物: | Journal of Electronic Materials | URI: | https://scholars.lib.ntu.edu.tw/handle/123456789/491980 | DOI: | 10.1007/s11664-012-2381-2 |
顯示於: | 材料科學與工程學系 |
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